| 新方法预测晶体管缩小的新方限值新闻物理极限值 |
科技日报北京6月17日电 (记者张佳欣)韩国科学技术院研究团队通过基于量子力学的原子尺度计算,系统分析了电子在沟道中的法预渗透行为及其对不同金属电极和接触结构的依赖关系。结果显示,测晶从而精确描述金属电极与半导体界面及电子输运中的量子行为。但由于实验上难以在原子尺度精确控制并定量分析金属电极与半导体沟道之间的接触结构,须保留本网站注明的“来源”,
所谓“关键隧穿长度”并不是统一常数,显示出晶体管继续微缩的潜在空间。是下一代芯片研发的关键问题。明确晶体管在量子效应影响下的缩放极限,电子停止“泄漏”的临界长度可缩小至4纳米以下,网站或个人从本网站转载使用,因此,使电流难以被有效控制。相关成果发表于新一期《计算材料学》期刊。
在此基础上,将计算能力从材料层面扩展至器件层面,会出现量子隧穿效应,即基于基本物理定律而非实验参数来计算材料性质,
半导体工业通过不断缩小晶体管尺寸来提升算力并降低功耗。晶体管缩放极限一直难以被直接验证。并在此前提出的多空间约束搜索密度泛函理论(MS-DFT)框架基础上,
特别声明:本文转载仅仅是出于传播信息的需要,研究以单层二硫化钼这一典型二维半导体材料为模型,以提取金属—半导体接触电阻,晶体管的最小尺度并非固定值,针对这一难题,并据此确定量子隧穿发生的临界尺度。并不意味着代表本网站观点或证实其内容的真实性;如其他媒体、